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四探针方阻电阻率测试仪
四探针电阻率/方阻测试仪,测量表面电阻,四探针电阻率/方阻测试仪 本机范德堡测量原理能改善样品因几何尺寸、边界效应、探针不等距和机械游移等外部因素对测量结果的影响及误差,四探针电阻率/方阻测试仪
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双电四探针方阻电阻率测试仪
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瑞柯微 手持式四探针方阻测试仪
FT-394系列手持式四探针方阻测试仪、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》,
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瑞柯微 FT-340系列双电测电四探针方阻电阻率测试仪
利用电流探针、电压探针的变换,进行两次电测量,对数据进行双电测分析,解决样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响,适用于斜置式四探针对于微区的测试。
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瑞柯微 普通四探针方阻电阻率测试仪
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瑞柯微 FT-371系列高阻双电四探针测试仪
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瑞柯微 四探针测试仪FT-361系列低阻双电
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瑞柯微 FT-341SJB双极板材料四探针低阻测试仪
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瑞柯微 薄膜材料方阻测试仪FT-331
采用范德堡测量原理能解决样品因几何尺寸、边界效应、探针不等距和机械游移等外部因素对测量结果的影响及误差,提供通讯接口,PC软件数据处理及数据分析.中文或英文语言版本.
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瑞柯微 FT-361SJB双极板材料四探针低阻/接触电阻测试仪
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